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S-neox三維光學輪廓儀

S-neox三維光學輪廓儀

  • 型號:S-neox
  • 品牌:Sensofar
  • 產地:西班牙
遵循標準:
簡介:
本{content.title}的特點:該輪廓儀 使用到2020年3月, 沒有任何故障。 帶有除振臺。工廠主要使用在傳感器生產上。共聚焦技術可以用來測量各類樣品表面的形貌。它比光學顯微鏡有更高的橫向分辨率,可達0.10um。利用它可實現臨界尺寸的測量。當用150倍、0.95數值孔徑的鏡頭時,共聚焦在光滑表面測量斜率達70°(粗糙表面達86°)。專利的共聚焦算法保證Z軸測量重復性在納米范疇。
輪廓儀

S-neox三維光學輪廓儀產品介紹

S-neox 3D光學輪廓儀! 輪廓測量法是一種用于從表面提取地形數據的技術。這可以是單點掃描,線掃描甚至是完整的三維掃描。輪廓測定法的目的是獲得表面形態,臺階高度和表面粗糙度。這可以使用物理探針或通過光來完成。 

產品描述


主要功能

共聚焦

共聚焦技術可以用來測量各類樣品表面的形貌。它比光學顯微鏡有更高的橫向分辨率,可達0.10um。利用它可實現臨界尺寸的測量。當用150倍、0.95數值孔徑的鏡頭時,共聚焦在光滑表面測量斜率達70°(粗糙表面達86°)。專利的共聚焦算法保證Z軸測量重復性在納米范疇。

干涉

a 相位差干涉 (PSI)

相位差干涉是一種亞納米級精度的用于測量光滑表面高度形貌的技術。它的優勢在于任何放大倍數都可以保證亞納米級的縱向分辨率。使用2.5倍的鏡頭就能實現超高縱向分辨率的大視場測量。

a 白光干涉 (VSI)

白光干涉是一種納米級測量精度的用于測量各種表面高度形貌的技術。它的優勢在于任何放大倍數都可以保證納米級的縱向分辨率。

多焦面疊加

多焦面疊加技術是用來測量非常粗糙的表面形貌。根據Sensofar在共聚焦和干涉技術融合應用方面的豐富經驗,特別設計了此功能來補足低倍共聚焦測量的需要。該技術的最大亮點是快速(mm/s)、掃描范圍大和支援斜率大(最大86°)。此功能對工件和模具測量特別有用。

※薄膜測量

用分光反射計可以完善地解決薄膜厚度測量。S neox 在增加了分光反射計后可以測量10nm的膜厚和最多10層膜。由于是通過顯微鏡頭測量,最小的測量點為5um。因為系統里有組合的LED光源,所以實時觀察和膜厚測量能同時進行。

測量及分析軟件

SensoSCAN

SensoSCAN是一款簡潔友好的操作軟件。它將引領用戶進入3D的世界,提供獨一無二的用戶體驗。在軟件界面內,用戶可以直觀明確地了解所用的測量方式,同時還能顯示和分析數據。

強大的專業分析軟件

增配SensoPRO LT 或SensoMAP軟件就能輕易實現全自動測量和分析。  

物鏡及系統參數

請咨詢我司相關銷售人員,或者參考產品樣本。


S-neox三維光學輪廓儀技術參數


物鏡



明面干涉
放大倍數2.5X5X10X20X50X100X150X2.5X5X10X20X50X100X
數值孔徑0.0750.150.30.450.80.90.950.0750.130.3
0.40.550.7
工作距離(mm)6.523.517.54.51.01.00.210.39.37.44.73.42.0
視場范圍(mm)7016x52803508x26401754x1320877x660351x264175x132117x887016x52803508x26401754x1320877x660351x264175x132
像素分辨率(mm)5.162.581.290.650.260.130.095.162.581.290.680.260.13
光學分辨率(mm)1.870.930.460.310.170.150.141.871.070.460.350.250.2
測量時間(s)>3S
>3S





共聚焦PSI/ePSI/\/SI
縱向分辨率(nm)30075258321PSI/ePSI 0.1nm(0.01nm with PZI)     VSI 1nm
最大斜率(°)3814214251713814212542





多焦面疊加
最小可測粗糙儀Sa>10nm
最大斜率(°)up to 86°

其他可選鏡頭

共聚焦/多焦面疊加可選:水鏡,長工作距離超長工作距離、帶景深調節環等鏡頭

干涉可選:可調分光鏡


1 在2/3英寸攝像頭和0.5倍放大下獲得的最大視場

2 像素點間的實際尺寸

3 由瑞利準側內*射極限的一半計算所得并用藍色LED照明

4 改時間是用共聚焦鏡頭掃描21張,干涉鏡頭掃描10um高度所得

5 測量標準鏡面并比較兩次測量結果所得。

   用主動式防震系統在PSI 10 相平均時測得。

   0.01nm精度需要PZI 裝置和恒溫房間

6 官話表面測得的數據,在粗糙表面可達86°。

S-neox三維光學輪廓儀標準配置


        系統配置


CCD像素

1360x1024 pixels

LED光源紅(630nm),綠(530nm),白(550nm)
樣品高度標準支架40mm,可調節支架150mm(更大可定制)
平臺尺寸

最大700x600mm

Z軸移動行程標準支架40mm,PZT裝置200um
Z軸測量范圍
PSI120um;ePSI100um;VSI10mm,共聚焦10mm,多焦面疊加37mm
Z軸線性度標準支架<0.5um/mm,PZT裝置<30nm/100um(0.03%)
Z軸分辨率標準支架2nm,PZT裝置0.75nm
臺階高度重復性0.1%
臺階精度0.5%
樣品反射率0.05% to 100%
顯示分辨率0.001nm
電源交流電100-240AC,50/60Hz
電腦配置intel處理器,2560x1440分辨率顯示器(27英寸)
操作系統Mincrosoft Windows 7
工作環境 溫度:10-35°,濕度<800%,海拔<2000m


S-neox三維光學輪廓儀可選配件

S-neox三維光學輪廓儀相關視頻

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    S-neox三維光學輪廓儀
    該輪廓儀 使用到2020年3月, 沒有任何故障。 帶有除振臺。工廠主要使用在傳感器生產上。共聚焦技術可以用來測量各類樣品表面的形貌。它比光學顯微鏡有更高的橫向分辨率,可達0.10um。利用它可實現臨界尺寸的測量。當用150倍、0.95數值孔徑的鏡頭時,共聚焦在光滑表面測量斜率達70°(粗糙表面達86°)。專利的共聚焦算法保證Z軸測量重復性在納米范疇。

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