試.jpg "硬度測(cè)試")
儀器.jpg "顯微鏡")
儀.jpg "質(zhì)構(gòu)儀、物性分析")
.jpg "橡膠制品測(cè)試")
機(jī).png "萬(wàn) 能試驗(yàn)機(jī)")
境試驗(yàn)箱.png "環(huán)境試驗(yàn)箱")
機(jī).jpg "進(jìn)口打標(biāo)機(jī)")
量?jī)x.jpg "厚度測(cè)量")
量?jī)x/測(cè)厚儀-reseto-方.jpg "粗糙度儀")
測(cè)量機(jī)/x5.jpg "長(zhǎng)度測(cè)量")
測(cè)儀器.jpg "表面光學(xué)檢測(cè)")
測(cè)量機(jī).jpg "三坐標(biāo)測(cè)量")
三維X射線測(cè)量系統(tǒng)產(chǎn)品介紹
基于 ZEISS METROTOM 的工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描（CT）
利用蔡司的工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)，僅需一次 X 射線掃描，即可順利完成工件的測(cè)量和檢驗(yàn)。標(biāo)準(zhǔn)的驗(yàn)收檢測(cè)、精密工程和完善的校準(zhǔn)程序可確保系統(tǒng)的追蹤性。配備線性導(dǎo)軌及轉(zhuǎn)臺(tái)，滿足客戶對(duì)精度的高要求。
利用 ZEISS METROTOM 輕松完成測(cè)量任務(wù)
測(cè)量與檢驗(yàn)整體部件
ZEISS METROTOM 是一種用于測(cè)量和檢驗(yàn)塑料或輕金屬部件的工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描測(cè)量系統(tǒng)。而在利用傳統(tǒng)測(cè)量機(jī)測(cè)量時(shí)，此類隱藏性的結(jié)構(gòu)信息只有將零件通過(guò)費(fèi)時(shí)的層層破壞方能獲得。
輕松且精準(zhǔn)地進(jìn)行多樣化特征檢測(cè)
利用 ZEISS METROTOM 計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)可一次掃描海量的零部件特征。這些測(cè)量結(jié)果非常精準(zhǔn)，且具可追溯性。和接觸式測(cè)量方法不同，ZEISS METROTOM 獲取海量測(cè)量點(diǎn)時(shí)，時(shí)間顯著縮短。
直觀簡(jiǎn)易的軟件操作
僅需通過(guò)短時(shí)間的 ZEISS METROTOM OS 軟件培訓(xùn)課程，操作人員即可對(duì)零件進(jìn)行掃描，透視零件的內(nèi)部。利用 ZEISS CALYPSO 可評(píng)估 CT 數(shù)據(jù)，再利用 ZEISS PiWeb 即可快速地將兩者融合于同一份測(cè)量報(bào)告中。
三維X射線測(cè)量系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)
三維X射線測(cè)量系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)配置
三維X射線測(cè)量系統(tǒng)可選配件
三維X射線測(cè)量系統(tǒng)相關(guān)視頻
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三維X射線測(cè)量系統(tǒng)資料下載
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三維X射線測(cè)量系統(tǒng)相關(guān)產(chǎn)品
測(cè)量機(jī)/Zeiss/MMZ G.jpg "<strong>三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)</strong>")
測(cè)量機(jī)/Zeiss/MMZ T.jpg "三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)")
測(cè)量機(jī)/Zeiss/METROTOM.jpg "三維X射線測(cè)量系統(tǒng)")
測(cè)量機(jī)/Zeiss/VoluMax.jpg "斷層掃描系統(tǒng)")
